BS EN 13925-1:2003
Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Principios generales

Estándar No.
BS EN 13925-1:2003
Fecha de publicación
2003
Organización
British Standards Institution (BSI)
Estado
 2003-01
Remplazado por
BS EN 13925-1:2003(2008)
Ultima versión
BS EN 13925-1:2003(2008)
Reemplazar
00/709693 DC-2000
Alcance
Esta norma europea especifica los principios generales de la difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Este método de prueba de materiales se ha denominado tradicionalmente "difracción de rayos X en polvo (XRPD)" y ahora se aplica a polvos, materiales a granel, películas delgadas y otros. Como el método puede utilizarse para diversos tipos de materiales y para obtener una gran variedad de información, esta norma revisa una gran cantidad de tipos de análisis, pero no es exhaustiva.

BS EN 13925-1:2003 Historia

  • 0000 BS EN 13925-1:2003(2008)
  • 2003 BS EN 13925-1:2003 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Principios generales



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