BS EN 13925-2:2003
Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Procedimientos

Estándar No.
BS EN 13925-2:2003
Fecha de publicación
2003
Organización
British Standards Institution (BSI)
Estado
 2003-01
Remplazado por
BS EN 13925-2:2003(2008)
Ultima versión
BS EN 13925-2:2003(2008)
Reemplazar
00/710452 DC-2000
Alcance
Esta norma europea especifica los procedimientos básicos aplicados en el método de difracción de rayos X en polvo (XRPD). Muchos de estos procedimientos son comunes a la mayoría de los tipos de difractómetros utilizados y tipos de análisis mencionados en la norma EN 13925-1. En aras de la claridad y la usabilidad inmediata, se brindan más detalles para los procedimientos que utilizan instrumentos con geometría de Bragg-Brentano y su aplicación a la identificación de fases. Se incluyen aspectos de preparación de muestras y evaluación de la calidad de los datos, pero el estándar no es exhaustivo. Se prevé que determinadas normas aborden campos de aplicación específicos con más detalle.

BS EN 13925-2:2003 Historia

  • 0000 BS EN 13925-2:2003(2008)
  • 2003 BS EN 13925-2:2003 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Procedimientos



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