IEC 61988-2-1:2002
Paneles de visualización de plasma - Parte 2-1: Métodos de medición, ópticos

Estándar No.

IEC 61988-2-1:2002

Fecha de publicación

2002

Organización

International Electrotechnical Commission (IEC)

Estado

 2012-02

Remplazado por

IEC 61988-2-1:2012

Ultima versión

IEC 61988-2-1:2012

Alcance

Determina los métodos de medición para caracterizar el rendimiento de los módulos de pantalla de plasma en color en las siguientes áreas: 4 % de luminancia de ventana; uniformidad de luminancia; relación de contraste en el cuarto oscuro; cromaticidad blanca y uniformidad cromática; gama de colores i

IEC 61988-2-1:2002 Historia

• 2012 IEC 61988-2-1:2012 Paneles de visualización de plasma - Parte 2-1: Métodos de medición - Ópticos y optoeléctricos
• 2002 IEC 61988-2-1:2002 Paneles de visualización de plasma - Parte 2-1: Métodos de medición, ópticos