BS EN 60749-7:2002

Estándar No.

BS EN 60749-7:2002

Fecha de publicación

2002

Organización

British Standards Institution (BSI)

Estado

 2011-09

Remplazado por

BS EN 60749-7:2011

Ultima versión

BS EN 60749-7:2011

Alcance

El propósito de esta parte de IEC 60749 es probar y medir el contenido de vapor de agua y otros gases de la atmósfera dentro de un dispositivo herméticamente sellado de metal o cerámica. Es aplicable a dispositivos semiconductores sellados de esta manera, pero generalmente solo se usa para aplicaciones de alta confiabilidad, como las militares o aeroespaciales. Puede ser destructivo (Métodos 1 y 2) o no destructivo (Método 3).

BS EN 60749-7:2002 Historia

• 2018 BS EN IEC 60749-12:2018 Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Vibración, frecuencia variable
• 2002 BS EN 60749-12:2002 Dispositivos semiconductores - Métodos de prueba mecánicos y climáticos - Vibración, frecuencia variable
• 1999 BS EN 60749:1999 Dispositivos semiconductores: métodos de prueba mecánicos y climáticos.
• 0000 BS 6493-3:1986