CNS 12865-8-1991
Método de prueba para microelectrónica digital (condición de carga) (Versión en inglés)

Estándar No.

CNS 12865-8-1991

Idiomas

Chino, Disponible en inglés

Fecha de publicación

1991

Organización

Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China

Ultima versión

CNS 12865-8-1991

Alcance

Este estándar especifica condiciones de carga adicionales requeridas para mediciones estáticas o dinámicas de componentes microelectrónicos digitales, como TTL, DTL, RTL, ECL y MOS.

CNS 12865-8-1991 Historia

• 1991 CNS 12865-8-1991 Método de prueba para microelectrónica digital (condición de carga)