IEC TS 62215-2:2007
Circuitos integrados - Medición de la inmunidad al impulso - Parte 2: Método de inyección transitoria síncrona

Estándar No.

IEC TS 62215-2:2007

Fecha de publicación

2007

Organización

International Electrotechnical Commission (IEC)

Ultima versión

IEC TS 62215-2:2007

Reemplazar

IEC 47A/762/DTS:2006 IEC 47A/762/DIS:2006

Alcance

IEC/Ts 62215-2, que es una especificación técnica, contiene información general y definiciones sobre el método de prueba para evaluar la inmunidad de los circuitos integrados (CI) contra perturbaciones transitorias síncronas de conducción rápida. Esta información va seguida de una descripción de las condiciones de medición. equipo de prueba y configuración de prueba, así como los procedimientos de prueba y los requisitos sobre el contenido del informe de prueba. El objetivo de esta especificación técnica es describir las condiciones generales para obtener una medida cuantitativa de inmunidad de los circuitos integrados estableciendo un entorno de prueba uniforme. Se describen los parámetros críticos que se espera que influyan en los resultados de la prueba. Las desviaciones de esta especificación deben indicarse explícitamente en la especificación individual. informe de prueba. este método de medición de inmunidad transitoria síncrona, como se describe en esta especificación. utiliza impulsos cortos con tiempos de subida rápidos de diferente amplitud, duración y polaridad en un modo conductivo al IC. En este método, el impulso aplicado debe sincronizarse con la actividad del IC para garantizar que se puedan garantizar condiciones controladas y reproducibles. ．

IEC TS 62215-2:2007 Documento de referencia

• IEC 61967-4 Circuitos integrados. Medición de emisiones electromagnéticas. Parte 4: Medición de emisiones conducidas. Método de acoplamiento directo de 1 ohm/150 ohm.*， 2021-03-16 Actualizar

IEC TS 62215-2:2007 Historia

• 2007 IEC TS 62215-2:2007 Circuitos integrados - Medición de la inmunidad al impulso - Parte 2: Método de inyección transitoria síncrona

IEC TS 62215-2:2007 Circuitos integrados - Medición de la inmunidad al impulso - Parte 2: Método de inyección transitoria síncrona ha sido cambiado a IEC 47A/762/DTS:2006 CEI/TS 62215-2, ed. 1: Circuitos integrados - Medición de la inmunidad a los impulsos - Parte 2: Método de inyección por impulsos.