JEDEC JEB15-1969
Terminología y métodos de medición para microcircuitos semiconductores biestables

Estándar No.

JEDEC JEB15-1969

Fecha de publicación

1969

Organización

(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association

Ultima versión

JEDEC JEB15-1969

Alcance

Este formato está destinado al registro de circuitos lógicos biestables integrados de semiconductores, incluidos circuitos monolíticos, multichip, fihl 0 y biestables híbridos.

JEDEC JEB15-1969 Historia

• 1969 JEDEC JEB15-1969 Terminología y métodos de medición para microcircuitos semiconductores biestables