GJB 5914-2006 (Versión en inglés)

Estándar No.: GJB 5914-2006
Idiomas: Chino, Disponible en inglés
Fecha de publicación: 2006
Organización: Military Standard of the People's Republic of China-Commission of Science,Technology and Industry for National Defence
Ultima versión: GJB 5914-2006

Alcance: Esta norma especifica los métodos de análisis físico destructivo (DPA) de varios dispositivos semiconductores de calidad militar incluidos en GJB/Z 299B-1998 "Manual de predicción de confiabilidad de equipos electrónicos", incluidos los requisitos generales del programa DPA y dispositivos semiconductores de diferentes grados de calidad. Métodos generales y criterios de defectos para pruebas y análisis de DPA. Este estándar se aplica a varios dispositivos semiconductores de calidad militar que tienen requisitos DPA.

GJB 5914-2006 Documento de referencia

GJB 128A-1997 Métodos de prueba de dispositivos semiconductores discretos
GJB 4027A-2006 Métodos de análisis físico destructivo para componentes electrónicos militares.
GJB 4152-2001 Condensadores cerámicos multicapa y métodos de inspección y preparación de secciones transversales de componentes similares.
GJB 548A-1996 Métodos y procedimientos de prueba de dispositivos microelectrónicos.
GJB/Z 299B-1998 Manual de predicción de confiabilidad de equipos electrónicos

2006 GJB 5914-2006 Métodos de análisis físico destructivo para dispositivos semiconductores militares de todo tipo de calidad.