SJ 2658.11-1986 Métodos de medición de diodos infrarrojos semiconductores Métodos de medición de las características de respuesta al pulso (Versión en inglés)
2015SJ/T 2658.11-2015 Método de medición para diodos emisores de infrarrojos semiconductores. Parte 11: Tiempo de respuesta
1970SJ 2658.11-1986 Métodos de medición de diodos infrarrojos semiconductores Métodos de medición de las características de respuesta al pulso
SJ 2658.11-1986 Métodos de medición de diodos infrarrojos semiconductores Métodos de medición de las características de respuesta al pulso ha sido cambiado a SJ/T 2658.11-2015 Método de medición para diodos emisores de infrarrojos semiconductores. Parte 11: Tiempo de respuesta.