DIN EN 60749-26:2007 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 26: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo del cuerpo humano (HBM) (IEC 60749-26:2006); Versión alemana EN 60749-26:2006
IEC 61340-3-1 Electrostática - Parte 3-1: Métodos para la simulación de efectos electrostáticos - Formas de onda de prueba de descarga electrostática del modelo de cuerpo humano (HBM)
DIN EN 60749-26:2007 Historia
0000 DIN EN IEC 60749-26:2018
2014DIN EN 60749-26:2014 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 26: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo del cuerpo humano (HBM) (IEC 60749-26:2013); Versión alemana EN 60749-26:2014
2007DIN EN 60749-26:2007 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 26: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo del cuerpo humano (HBM) (IEC 60749-26:2006); Versión alemana EN 60749-26:2006