DIN EN 62373:2007
Prueba de estabilidad de la temperatura de polarización para transistores de efecto de campo, semiconductores y de óxido metálico (MOSFET) (IEC 62373:2006); Versión alemana EN 62373:2006

Estándar No.

DIN EN 62373:2007

Fecha de publicación

2007

Organización

German Institute for Standardization

Ultima versión

DIN EN 62373:2007

Reemplazar

DIN IEC 62373:2004

Alcance

Esta norma internacional proporciona un procedimiento de prueba para una prueba de estabilidad de temperatura de polarización (BT) de transistores de efecto de campo (MOSFET) semiconductores de óxido metálico.#,,#

DIN EN 62373:2007 Historia

• 2007 DIN EN 62373:2007 Prueba de estabilidad de la temperatura de polarización para transistores de efecto de campo, semiconductores y de óxido metálico (MOSFET) (IEC 62373:2006); Versión alemana EN 62373:2006
• 0000 DIN IEC 62373:2004