IEC 61967-4:2002
Circuitos integrados. Medición de emisiones electromagnéticas, 150 kHz a 1 GHz. Parte 4: Medición de emisiones conducidas; Método de acoplamiento directo 1/150

Estándar No.

IEC 61967-4:2002

Fecha de publicación

2002

Organización

International Electrotechnical Commission (IEC)

Estado

Remplazado por

IEC 61967-4:2006

Ultima versión

IEC 61967-4:2021 RLV

Reemplazar

IEC 47A/636/FDIS:2002

Alcance

Esta parte de IEC 61967 especifica un método para medir la emisión electromagnética conducida (EME) de circuitos integrados mediante medición directa de corriente de radiofrecuencia (RF) con una sonda resistiva de 1 Ω y medición de voltaje de RF utilizando una red de acoplamiento de 150 Ω. Estos métodos garantizan un alto grado de repetibilidad y correlación de las mediciones de EME. IEC 61967-1 especifica condiciones generales y definiciones de los métodos de prueba.

IEC 61967-4:2002 Historia

• 0000 IEC 61967-4:2021 RLV
• 2017 IEC 61967-4:2002/COR1:2017 Circuitos integrados. Medición de emisiones electromagnéticas, 150 kHz a 1 GHz. Parte 4: Medición de emisiones conducidas; Método de acoplamiento directo 1 Ώ/150 Ώ - Corrigendum 1
• 2006 IEC 61967-4:2002/AMD1:2006 Enmienda 1 - Circuitos integrados - Medición de emisiones electromagnéticas, 150 kHz a 1 GHz - Parte 4: Medición de emisiones conducidas - Método de acoplamiento directo 1/150
• 2006 IEC 61967-4:2006 Circuitos integrados. Medición de emisiones electromagnéticas, 150 kHz a 1 GHz. Parte 4: Medición de emisiones conducidas; Método de acoplamiento directo 1/150
• 2002 IEC 61967-4:2002 Circuitos integrados. Medición de emisiones electromagnéticas, 150 kHz a 1 GHz. Parte 4: Medición de emisiones conducidas; Método de acoplamiento directo 1/150