BS EN 62373:2006
Prueba de estabilidad de temperatura de polarización para transistores de efecto de campo, semiconductores y de óxido metálico (MOSFET)

Estándar No.

BS EN 62373:2006

Fecha de publicación

2006

Organización

British Standards Institution (BSI)

Ultima versión

BS EN 62373:2006

Reemplazar

04/30113801 DC-2004

Alcance

Esta norma internacional proporciona un procedimiento de prueba para una prueba de estabilidad de temperatura de polarización (BT) de transistores de efecto de campo (MOSFET) semiconductores de óxido metálico.

BS EN 62373:2006 Historia

• 2006 BS EN 62373:2006 Prueba de estabilidad de temperatura de polarización para transistores de efecto de campo, semiconductores y de óxido metálico (MOSFET)