ISO/TR 17055:2002 Acero - Determinación del contenido de silicio - Método espectrométrico de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente normas y especificaciones

Alcance: Este Informe Técnico especifica un método para la determinación del contenido de silicio en acero mediante espectrometría de emisión de plasma acoplado inductivamente. Este método es aplicable a contenidos de silicio con una fracción de masa del 0,02 % al 5 %. El método utiliza una calibración basada en una coincidencia matricial muy cercana de las soluciones de calibración con la muestra y un estrechamiento del contenido alrededor de la concentración aproximada de silicio en la muestra a analizar. Por lo tanto, las concentraciones de todos los elementos de la muestra deben conocerse aproximadamente. Si no se conocen las concentraciones, la muestra debe analizarse mediante algún método semicuantitativo. La ventaja de este procedimiento es que todas las posibles interferencias de la matriz se compensarán automáticamente, lo que dará como resultado una alta precisión. Esto es más importante para las interferencias espectrales, que pueden ser graves en aleaciones muy altas. Sin embargo, todas las posibles interferencias deben reducirse al mínimo. Por lo tanto, es esencial que el espectrómetro utilizado cumpla con los criterios de rendimiento especificados en el método para las líneas analíticas seleccionadas.

ISO/TR 17055:2002 Historia

2002 ISO/TR 17055:2002 Acero - Determinación del contenido de silicio - Método espectrométrico de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente