QJ/Z 33-1977
Método de prueba del circuito de integración digital de efecto de campo (P-MOS) (Versión en inglés)
- Estándar No.
- QJ/Z 33-1977
- Idiomas
- Chino, Disponible en inglés
- Organización
- Professional Standard - Aerospace
- Estado
- Ultima versión
- QJ/Z 33-1977
QJ/Z 33-1977 Historia
- 1970 QJ/Z 33-1977 Método de prueba del circuito de integración digital de efecto de campo (P-MOS)
