QJ 483-1979
Método de prueba para determinar la rigidez dieléctrica de la capa de película anodizada aislante de aluminio y aleación de aluminio. (Versión en inglés)
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QJ 483-1979
Estándar No.
QJ 483-1979
Idiomas
Chino,
Disponible en inglés
Organización
Professional Standard - Aerospace
Estado
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Remplazado por
QJ 483-1990
Ultima versión
QJ 483-1990
QJ 483-1979 Historia
1990
QJ 483-1990
Método de prueba para el voltaje de ruptura de la capa de película anodizada aislante de aluminio y aleación de aluminio
1970
QJ 483-1979
Método de prueba para determinar la rigidez dieléctrica de la capa de película anodizada aislante de aluminio y aleación de aluminio.
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