QJ 1528-1988
Método de prueba de base de tiempo de circuito integrado semiconductor (Versión en inglés)
- Estándar No.
- QJ 1528-1988
- Idiomas
- Chino, Disponible en inglés
- Organización
- Professional Standard - Aerospace
- Estado
- Ultima versión
- QJ 1528-1988
QJ 1528-1988 Historia
- 1970 QJ 1528-1988 Método de prueba de base de tiempo de circuito integrado semiconductor
