SAE J1752-2-2003
Medición de emisiones radiadas de circuitos integrados Método de exploración de superficie (método de sonda en bucle) 10 MHz a 3 GHz
- Estándar No.
- SAE J1752-2-2003
- Fecha de publicación
- 2003
- Organización
- Society of Automotive Engineers (SAE)
- Estado
- Remplazado por
- SAE J1752-2-2011
- Ultima versión
- SAE J1752-2-2016
- Alcance
- Esta práctica recomendada por SAE define un método para evaluar el componente eléctrico o magnético del campo cercano del campo electromagnético en la superficie de un circuito integrado (IC). Esta técnica es capaz de proporcionar un patrón detallado de las fuentes de RF internas del CI. La resolución del patrón está determinada por las características de las sondas utilizadas y la precisión del posicionador mecánico de la sonda. El método se puede utilizar en el rango de frecuencia de 10 MHz a 3 GHz con la tecnología de sonda existente. La sonda se escanea mecánicamente según un patrón programado en un plano paralelo o perpendicular a la superficie del CI y los datos se procesan por computadora para proporcionar una representación con colores mejorados de la intensidad del campo en la frecuencia de escaneo. Este procedimiento es aplicable a mediciones desde un IC montado en cualquier placa de circuito a la que pueda acceder la sonda de escaneo. Para las comparaciones, se utilizará el tablero de prueba estandarizado. Este procedimiento de diagnóstico está destinado al análisis arquitectónico de CI, incluido el plano de planta funcional y la distribución de energía.
SAE J1752-2-2003 Historia
- 2016 SAE J1752-2-2016 Medición de emisiones radiadas de circuitos integrados: método de exploración de superficie (método de sonda en bucle) de 10 MHz a 3 GHz
- 2011 SAE J1752-2-2011 Medición de emisiones radiadas de circuitos integrados Método de exploración de superficie (método de sonda en bucle) 10 MHz a 3 GHz
- 2003 SAE J1752-2-2003 Medición de emisiones radiadas de circuitos integrados Método de exploración de superficie (método de sonda en bucle) 10 MHz a 3 GHz
- 1995 SAE J1752-2-1995 Procedimientos de medición de compatibilidad electromagnética para circuitos integrados - Procedimiento de diagnóstico de emisiones radiadas de circuitos integrados 1 MHz a 1000 MHz @ Campo magnético - Sonda de bucle @ Práctica recomendada (marzo de 1995)
