JIS X 6330:2001
Tarjeta de memoria óptica -- Método de grabación lineal -- Características físicas

Estándar No.

JIS X 6330:2001

Fecha de publicación

2001

Organización

Japanese Industrial Standards Committee (JISC)

Ultima versión

JIS X 6330:2001

Reemplazar

JIS X 6330:1998

Alcance

Esta norma especifica las características físicas, incluida la estructura y las dimensiones, la posición y las dimensiones del área de grabación óptica y las características ópticas de las tarjetas de memoria óptica de grabación lineal (en lo sucesivo denominadas tarjetas).

JIS X 6330:2001 Historia

• 2001 JIS X 6330:2001 Tarjeta de memoria óptica -- Método de grabación lineal -- Características físicas
• 1998 JIS X 6330:1998 Tarjeta de memoria óptica -- Método de grabación lineal -- Características físicas