IEC PAS 62483:2006
Método de prueba para medir el crecimiento de bigotes en acabados superficiales de estaño y aleaciones de estaño.

Estándar No.
IEC PAS 62483:2006
Fecha de publicación
2006
Organización
International Electrotechnical Commission (IEC)
Estado
Ultima versión
IEC PAS 62483:2006
Remplazado por
IEC 62483:2013
Alcance
La metodología presentada en este documento, ver Anexo A para el flujo del proceso, es aplicable para estudiar el crecimiento de bigotes de estaño en acabados que contienen predominio de estaño (Sn). Este método de prueba puede no ser suficiente para aplicaciones con requisitos especiales, por ejemplo, militares o aeroespaciales. Se pueden especificar requisitos adicionales en el documento de requisitos correspondiente. El objetivo de este PAS es: ? Proporcionar un conjunto de pruebas estandarizadas en la industria para medir y comparar la propensión a los bigotes para diferentes procesos y procesos químicos de enchapado o acabado. ? Proporcionar un protocolo de inspección coherente para el examen de los bigotes de estaño. ? Proporcionar un formato de informe estándar.

IEC PAS 62483:2006 Historia

  • 2006 IEC PAS 62483:2006 Método de prueba para medir el crecimiento de bigotes en acabados superficiales de estaño y aleaciones de estaño.

IEC PAS 62483:2006 Método de prueba para medir el crecimiento de bigotes en acabados superficiales de estaño y aleaciones de estaño. ha sido cambiado a IEC 62483:2013 Requisitos de aceptación ambiental para la susceptibilidad a los bigotes de estaño de los acabados superficiales de estaño y aleaciones de estaño en dispositivos semiconductores.




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