JJG 570-2006
Comparadores de capacitancia (Versión en inglés)

Estándar No.

JJG 570-2006

Idiomas

Chino, Disponible en inglés

Fecha de publicación

2006

Organización

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China

Ultima versión

JJG 570-2006

Reemplazar

JJG 570-1988

Alcance

Este procedimiento es aplicable a la calibración inicial, calibración posterior e inspección en uso de micrómetros capacitivos con un rango de no más de 2000 μm y una resolución de 1 nm a 0,5 μm.

JJG 570-2006 Documento de referencia

• JJF 1001-1998 Términos generales en metrología y sus definiciones
• JJF 1059-1999 Evaluación y expresión de la incertidumbre en la medición.
• JJF 1094-2002 TS para la evaluación de las características de los instrumentos de medida.*， 2023-12-08 Actualizar

JJG 570-2006 Historia

• 2006 JJG 570-2006 Comparadores de capacitancia
• 1988 JJG 570-1988 Reglamento de verificación del comparador de capacitancia