IEC 60749-27:2006 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 27: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo de máquina (MM). normas y especificaciones

Alcance: Esta parte de IEC 60749 establece un procedimiento estándar para probar y clasificar dispositivos semiconductores según su susceptibilidad a daños o degradación por exposición a una descarga electrostática (ESD) de un modelo de máquina definido (MM). Puede utilizarse como método de prueba alternativo al método de prueba ESD del modelo de cuerpo humano. El objetivo es proporcionar resultados de pruebas de ESD confiables y repetibles para que se puedan realizar clasificaciones precisas. Este método de prueba es aplicable a todos los dispositivos semiconductores y está clasificado como destructivo. Las pruebas ESD de dispositivos semiconductores se seleccionan entre este método de prueba, el modelo del cuerpo humano (HBM, consulte IEC 60749-26) u otros métodos de prueba de la serie IEC 60749. Los métodos de prueba MM y HBM producen resultados similares pero no idénticos. A menos que se especifique lo contrario, el método de prueba de HBM es el seleccionado. NOTA 1 Este método de prueba no simula realmente la descarga de máquinas o herramientas metálicas reales porque el método de prueba utiliza una alta inductancia parásita del circuito de prueba, mientras que las máquinas y herramientas metálicas reales, cuyo tiempo de aumento de descarga es de aproximadamente 100 ps, no tienen inductancia. NOTA 2 Ciertas cláusulas de este método de prueba están de acuerdo con IEC 61340-3-2.

IEC 60749-27:2006 Historia

2012 IEC 60749-27:2006/AMD1:2012 Enmienda 1 - Dispositivos semiconductores - Métodos de prueba mecánicos y climáticos - Parte 27: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD) - Modelo de máquina (MM)
2012 IEC 60749-27:2012 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 27: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo de máquina (MM).
2006 IEC 60749-27:2006 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 27: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo de máquina (MM).
2003 IEC 60749-27:2003 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 27: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD); Modelo de máquina (MM)