BS EN 62132-4:2006 Circuitos integrados - Medición de inmunidad electromagnética - 150 kHz a 1 GHz - Método de inyección directa de potencia de RF normas y especificaciones

Alcance: Esta parte de IEC 62132 describe un método para medir la inmunidad de circuitos integrados (IC) en presencia de perturbaciones de RF conducidas, por ejemplo, resultantes de perturbaciones de RF radiadas. Este método garantiza un alto grado de repetibilidad y correlación de las mediciones de inmunidad. Esta norma establece una base común para la evaluación de dispositivos semiconductores utilizados en equipos que funcionan en un entorno sujeto a ondas electromagnéticas de radiofrecuencia no deseadas.

BS EN 62132-4:2006 Documento de referencia

CISPR 16-1-2-2003 Especificación para aparatos y métodos de medición de inmunidad y perturbaciones radioeléctricas. Parte 1-2: Aparatos de medición de inmunidad y perturbaciones radioeléctricas. Equipo auxiliar. Perturbaciones conducidas.
IEC 61000-4-6 Compatibilidad electromagnética (CEM). Parte 4-6: Técnicas de prueba y medición. Inmunidad a las perturbaciones conducidas inducidas por campos de radiofrecuencia.*， 2023-06-06 Actualizar
IEC 61967-4 Circuitos integrados. Medición de emisiones electromagnéticas. Parte 4: Medición de emisiones conducidas. Método de acoplamiento directo de 1 ohm/150 ohm.*， 2021-03-16 Actualizar

2006 BS EN 62132-4:2006 Circuitos integrados - Medición de inmunidad electromagnética - 150 kHz a 1 GHz - Método de inyección directa de potencia de RF