UL 1557-2006
Norma UL para seguridad de dispositivos semiconductores aislados eléctricamente, cuarta edición; Reimpresión con revisiones hasta el 26/06/2006 inclusive

Estándar No.

UL 1557-2006

Fecha de publicación

2006

Organización

Underwriters Laboratories (UL)

Estado

 2009-01

Remplazado por

UL 1557 BULLETINS-2006

Ultima versión

UL 1557-2022

Alcance

Estos requisitos se aplican a dispositivos semiconductores del tipo de montaje aislado: tiristores, transistores, diodos y similares, y módulos híbridos que consisten en combinaciones de estos dispositivos donde el voltaje no excede 600 V CA rms o CC. 1.2 Estos requisitos no se aplican a los circuitos amortiguadores y de conmutación asociados con tiristores, transistores u otros dispositivos semiconductores analógicos. 1.3 Estos requisitos cubren el rendimiento de aislamiento de tiristores, transistores, diodos y similares, y su combinación en paquetes de módulos y características constructivas que son pertinentes para ese rendimiento. 1.4 Estos requisitos se aplican a semiconductores aislados para su uso como componentes en productos. El cumplimiento de estos requisitos por parte de un semiconductor aislado no determina que el semiconductor sea aceptable para su uso como componente de un producto final sin mayor investigación. La aceptabilidad de un semiconductor en cualquier producto particular depende de su aceptabilidad para uso continuo bajo las condiciones que prevalecen en el servicio real.

UL 1557-2006 Historia

• 2022 UL 1557-2022 Norma UL para dispositivos semiconductores aislados eléctricamente de seguridad
• 2018 UL 1557 BULLETIN-2018 Norma UL para dispositivos semiconductores aislados eléctricamente de seguridad (COMENTARIOS DEBIDOS: 12 de marzo de 2018)
• 2018 UL 1557-2018 Norma UL para dispositivos semiconductores aislados eléctricamente de seguridad (sexta edición)
• 2017 UL 1557 CRD-2017 Norma UL para seguridad de dispositivos semiconductores eléctricamente aislados Referencia de sección/párrafo: 14 Asunto: Prueba de resistencia a la tensión dieléctrica de la línea de producción: adición de prueba de CC (Edición 5: 29 de diciembre de 2011)
• 2014 UL 1557 BULLETIN-2014 Norma UL para dispositivos semiconductores aislados eléctricamente de seguridad (COMENTARIOS DEBIDO: 13 DE OCTUBRE DE 2014)
• 2012 UL 1557 BULLETIN-2012 Norma UL para dispositivos semiconductores aislados eléctricamente de seguridad (COMENTARIOS DEBIDO: 22 de julio de 2012)
• 2011 UL 1557 BULLETIN-2011 Norma UL para dispositivos semiconductores aislados eléctricamente de seguridad (COMENTARIOS DEBIDO: 19 DE DICIEMBRE DE 2011)
• 2011 UL 1557-2011 Dispositivos semiconductores eléctricamente aislados.
• 2009 UL 1557 BULLETIN-2009 Norma UL para dispositivos semiconductores eléctricamente aislados de seguridad (COMENTARIOS DEBIDOS: 13 de julio de 2009)
• 2006 UL 1557 BULLETINS-2006 Norma UL para dispositivos semiconductores aislados eléctricamente de seguridad (11/04/2006 (4p); 26/01/2006 (4p))
• 2006 UL 1557-2006 Norma UL para seguridad de dispositivos semiconductores aislados eléctricamente, cuarta edición; Reimpresión con revisiones hasta el 26/06/2006 inclusive
• 1997 UL 1557-1997 Dispositivos semiconductores eléctricamente aislados.
• 1993 UL 1557-1993 Dispositivos semiconductores eléctricamente aislados.