IEC 61290-5-1:2006
Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 5-1: Parámetros de reflectancia. Método del analizador de espectro óptico.

Estándar No.
IEC 61290-5-1:2006
Fecha de publicación
2006
Organización
International Electrotechnical Commission (IEC)
Ultima versión
IEC 61290-5-1:2006
Reemplazar
IEC 86C/697/FDIS:2006 IEC 61290-5-1:2000
Alcance
Esta parte de IEC 61290 se aplica a todos los amplificadores ópticos (OA) y subsistemas ópticamente amplificados disponibles comercialmente. Se aplica a los OA que utilizan fibras bombeadas ópticamente (OFA basadas en fibras dopadas con tierras raras o en el efecto Raman), OA semiconductores (SOA) y guías de ondas (POWA). El objetivo de esta norma es establecer requisitos uniformes para una precisión y confiabilidad. mediciones, mediante el método de prueba del analizador de espectro óptico, de los siguientes parámetros OA, tal como se definen en IEC 61291-1: a) reflectancia máxima de entrada; b) reflectancia de entrada mínima; c) reflectancia de salida. NOTA 1 Todos los valores numéricos seguidos de ($) están actualmente bajo consideración. NOTA 2 El método de prueba de reflectancia descrito en esta norma no se aplica a los amplificadores Raman de fibra distribuida. Se está considerando la evaluación de la reflectancia y la pérdida de retorno de los amplificadores Raman de fibra distribuida. NOTA 3 La elección de los métodos, ya sea el método de prueba del analizador de espectro óptico o el método de prueba del analizador de espectro eléctrico, puede depender de la disponibilidad del equipo. Normalmente se esperan resultados similares con ambas técnicas.

IEC 61290-5-1:2006 Documento de referencia

  • IEC 61291-1 Amplificadores ópticos - Parte 1: Especificaciones genéricas*2018-02-01 Actualizar

IEC 61290-5-1:2006 Historia

  • 2006 IEC 61290-5-1:2006 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 5-1: Parámetros de reflectancia. Método del analizador de espectro óptico.
  • 2000 IEC 61290-5-1:2000 Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas - Parte 5-1: Métodos de prueba para parámetros de reflectancia - Analizador de espectro óptico



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