JIS C 61000-4-20:2006
Compatibilidad electromagnética (EMC) - Parte 4-20: Técnicas de prueba y medición - Pruebas de emisión e inmunidad en guías de ondas electromagnéticas transversales (TEM)

Estándar No.

JIS C 61000-4-20:2006

Fecha de publicación

2006

Organización

Japanese Industrial Standards Committee (JISC)

Estado

Remplazado por

JIS C 61000-4-20:2014

Ultima versión

JIS C 61000-4-20:2014

JIS C 61000-4-20:2006 Historia

• 2014 JIS C 61000-4-20:2014 Compatibilidad electromagnética (EMC) - Parte 4-20: Técnicas de prueba y medición - Pruebas de emisión e inmunidad en guías de ondas electromagnéticas transversales (TEM)
• 2006 JIS C 61000-4-20:2006 Compatibilidad electromagnética (EMC) - Parte 4-20: Técnicas de prueba y medición - Pruebas de emisión e inmunidad en guías de ondas electromagnéticas transversales (TEM)