Define la lógica de prueba que se puede incluir en un circuito integrado para proporcionar enfoques estandarizados para: a) probar las interconexiones entre circuitos integrados una vez que se han ensamblado en una placa de circuito impreso u otro sustrato; b) probar el propio circuito integrado; y c) observar o modificar la actividad del circuito durante el funcionamiento normal del componente. La lógica de prueba consta de un registro de exploración de límites y otros componentes básicos y se accede a ella a través de un puerto de acceso a prueba (TAP).
ANSI/IEEE 1149.1:2001 Historia
2001ANSI/IEEE 1149.1:2001 Puerto de acceso de prueba estándar y arquitectura de escaneo de límites