SAE J1113/24-2000 Inmunidad a los campos electromagnéticos radiados; Celda TEM Crawford de 10 kHz a 200 MHz y celda TEM de banda ancha de 10 kHz a 5 GHz
Esta parte de SAE J1113 especifica métodos y procedimientos de prueba de celdas TEM para probar la inmunidad electromagnética de componentes electrónicos (DUT) para automóviles de pasajeros, vehículos comerciales y aplicaciones similares. En el documento se analizan los métodos que utilizan la celda TEM de sección transversal constante (TEM de Crawford) y la celda TEM de sección transversal abocinada (TEM de banda ancha). La perturbación electromagnética considerada en esta parte de SAE J1113 se limitará a campos electromagnéticos continuos de banda estrecha. Las células TEM producen campos eléctricos y magnéticos simultáneamente. La prueba es directamente aplicable a DUT cuya altura sea inferior a 1/3 de la altura del tabique; Se pueden probar módulos algo más grandes aplicando las condiciones. Las celdas Crawford TEM y TEM de banda ancha se pueden usar para pruebas dentro de la condición de 1/3 de altura sin demostrar uniformidad de campo dentro de la celda, si la configuración de prueba cumple con las demás disposiciones de esta norma. Esta prueba se puede utilizar para dos propósitos: a. Prueba de inmunidad de los DUT con acoplamiento de campo principal al DUT y al mazo de cables; b. Prueba de la inmunidad de los DUT con acoplamiento de campo importante al DUT. Los métodos definidos en este documento tienen algunas diferencias significativas con respecto a la norma ISO 11452-3. Se ha deliberado cuidadosamente sobre la necesidad de apartarse del estándar internacional. Las principales diferencias son el método para sacar los cables del DUT de la celda TEM y la inclusión de la celda TEM de banda ancha. Por lo general, sólo el fabricante del vehículo puede realizar mediciones de inmunidad en vehículos completos. Las razones son, por ejemplo, los elevados costes de una cámara revestida de amortiguador del tamaño de un vehículo, la preservación del secreto de los prototipos o la gran cantidad de modelos de vehículos diferentes. Por lo tanto, para la investigación, el desarrollo y el control de calidad, el fabricante del componente deberá aplicar un método de medición de laboratorio.
SAE J1113/24-2000 Historia
2010SAE J1113/24-2010 Inmunidad a los campos electromagnéticos radiados; 10 kHz a 200 MHz - Celda TEM Crawford y 10 kHz a 5 GHz - Celda TEM de banda ancha
2006SAE J1113/24-2006 Inmunidad a los campos electromagnéticos radiados; Celda TEM Crawford de 10 kHz a 200 MHz y celda TEM de banda ancha de 10 kHz a 5 GHz
2000SAE J1113/24-2000 Inmunidad a los campos electromagnéticos radiados; Celda TEM Crawford de 10 kHz a 200 MHz y celda TEM de banda ancha de 10 kHz a 5 GHz