IEC PAS 62162:2000
Método de prueba de modelo de dispositivo cargado inducido por archivo para umbrales de resistencia a descargas electrostáticas de componentes microelectrónicos

Estándar No.

IEC PAS 62162:2000

Fecha de publicación

2000

Organización

International Electrotechnical Commission (IEC)

Ultima versión

IEC PAS 62162:2000

IEC PAS 62162:2000 Historia

• 2000 IEC PAS 62162:2000 Método de prueba de modelo de dispositivo cargado inducido por archivo para umbrales de resistencia a descargas electrostáticas de componentes microelectrónicos