ISO 3497:2000 Recubrimientos metálicos - Medición del espesor del recubrimiento - Métodos espectrométricos de rayos X normas y especificaciones

Alcance: ADVERTENCIA Los problemas relacionados con la protección del personal contra los rayos X no están cubiertos por esta norma internacional. Para obtener información sobre este importante aspecto, se debe hacer referencia a las normas internacionales y nacionales vigentes, y a las regulaciones locales, cuando existan. 1 Esta norma internacional especifica métodos para medir el espesor de recubrimientos metálicos mediante el uso de métodos espectrométricos de rayos X. 2 Los métodos de medición a los que se aplica esta Norma Internacional son fundamentalmente aquellos que determinan la masa por unidad de área. Conociendo la densidad del material de recubrimiento, los resultados de las mediciones también se pueden expresar como espesor lineal del recubrimiento. 3 Los métodos de medición permiten medir simultáneamente sistemas de recubrimiento con hasta tres capas o medir simultáneamente el espesor y la composición de capas con hasta tres componentes. 4 Los rangos de medición prácticos de determinados materiales de recubrimiento están determinados en gran medida por la energía de la fluorescencia de rayos X característica que se va a analizar y por la incertidumbre de medición aceptable y pueden diferir según el sistema de instrumentos y el procedimiento operativo utilizado.

ISO 3497:2000 Historia

2000 ISO 3497:2000 Recubrimientos metálicos - Medición del espesor del recubrimiento - Métodos espectrométricos de rayos X
1990 ISO 3497:1990 Recubrimientos metálicos; medición del espesor del recubrimiento; Métodos espectrométricos de rayos X.
1976 ISO 3497:1976 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Métodos espectrométricos de rayos X.