IEC 62044-3:2000
Núcleos fabricados con materiales magnéticos blandos. Métodos de medición. Parte 3: Propiedades magnéticas a un alto nivel de excitación.

Estándar No.

IEC 62044-3:2000

Fecha de publicación

2000

Organización

International Electrotechnical Commission (IEC)

Estado

Remplazado por

IEC 62044-3:2000/COR1:2021

Ultima versión

IEC 62044-3:2023 RLV

Reemplazar

IEC 51/573/FDIS:2000 IEC 60367-1:1982 IEC 60367-1 AMD 1:1984 IEC 60367-1 AMD 2:1992 IEC 60367-2 AMD 1:1983

Alcance

Esta norma proporciona métodos de medición para la pérdida de potencia y la permeabilidad de amplitud de los núcleos magnéticos que forman circuitos magnéticos cerrados destinados a su uso a altos niveles de excitación en inductores, bobinas de choque, transformadores y dispositivos similares para aplicaciones de electrónica de potencia. Los métodos dados en esta norma pueden cubrir la medición de propiedades magnéticas para frecuencias que van prácticamente desde cc hasta 10 MHz, e incluso posiblemente superiores, para los métodos calorimétricos y de reflexión. La aplicabilidad de los métodos individuales a rangos de frecuencia específicos depende del nivel de precisión que se desea obtener. Los métodos de esta norma son básicamente los más adecuados para excitaciones de onda sinusoidal. También se pueden utilizar otras formas de onda periódicas; sin embargo, sólo se puede obtener una precisión adecuada si los circuitos de medición y los instrumentos utilizados son capaces de manejar y procesar las amplitudes y fases de las señales involucradas dentro del espectro de frecuencia correspondiente a las formas de onda de inducción y de intensidad de campo dadas con una precisión sólo ligeramente degradada. NOTA Puede ser necesario que algunos materiales metálicos magnéticamente blandos sigan principios generales específicos, habituales para estos materiales, relacionados con la preparación de muestras y los cálculos prescritos. Estos principios están formulados en IEC 60404-8-6.

IEC 62044-3:2000 Historia

• 0000 IEC 62044-3:2023 RLV
• 2021 IEC 62044-3:2000/COR1:2021 Núcleos fabricados con materiales magnéticos blandos. Métodos de medición. Parte 3: Propiedades magnéticas a un alto nivel de excitación; Corrección 1
• 2000 IEC 62044-3:2000 Núcleos fabricados con materiales magnéticos blandos. Métodos de medición. Parte 3: Propiedades magnéticas a un alto nivel de excitación.

IEC 62044-3:2000 Núcleos fabricados con materiales magnéticos blandos. Métodos de medición. Parte 3: Propiedades magnéticas a un alto nivel de excitación. ha sido cambiado a IEC 60367-1:1982 Núcleos para inductores y transformadores para telecomunicaciones. Parte 1: Métodos de medición.