ISO 14975:2000
Análisis químico de superficies - Formatos de información

Estándar No.

ISO 14975:2000

Fecha de publicación

2000

Organización

International Organization for Standardization (ISO)

Ultima versión

ISO 14975:2000

Alcance

Esta norma internacional especifica un formato para complementar la norma ISO 14976 para transferir datos para la creación, expansión y revisión de una base de datos espectral de análisis químico de superficies. El formato se aplica a los datos espectrales de espectroscopia de electrones Auger (AES) y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X (XPS).

ISO 14975:2000 Historia

• 2000 ISO 14975:2000 Análisis químico de superficies - Formatos de información