DIN 51390-4:2000
Ensayos de productos petrolíferos. Determinación del contenido de silicona. Parte 4: Determinación directa mediante análisis espectral de emisión óptica con plasma acoplado inductivamente (ICP OES).
- Estándar No.
- DIN 51390-4:2000
- Fecha de publicación
- 2000
- Organización
- German Institute for Standardization
- Estado
- Remplazado por
- DIN 51390-4:2000-11
- Ultima versión
- DIN 51390-4:2000-11
- Alcance
- El documento especifica un método para la determinación del contenido de silicio de los productos petrolíferos. Es una determinación directa mediante análisis espectral de emisión óptica con plasma acoplado inductivamente.
DIN 51390-4:2000 Historia
- 2000 DIN 51390-4:2000-11 Ensayos de productos petrolíferos. Determinación del contenido de silicona. Parte 4: Determinación directa mediante análisis espectral de emisión óptica con plasma acoplado inductivamente (ICP OES).
- 2000 DIN 51390-4:2000 Ensayos de productos petrolíferos. Determinación del contenido de silicona. Parte 4: Determinación directa mediante análisis espectral de emisión óptica con plasma acoplado inductivamente (ICP OES).
