Las pruebas de vida se realizan con diversos fines. Las pruebas realizadas para detectar el nivel de mortalidad infantil implican duraciones breves; A menos que el porcentaje de dispositivos que tienen mortalidad infantil sea extremadamente alto, el tamaño de muestra especificado en este documento no es suficiente. Se pueden realizar pruebas para determinar la vida útil del dispositivo para una aplicación específica. Se supone que un producto MMIC determinado está designado como dispositivo de potencia, de uso general o de bajo ruido (o de pequeña señal), según el uso previsto del producto. . Para dispositivos de bajo ruido y componentes pasivos, los niveles de voltaje de RF son lo suficientemente pequeños como para que sea posible simular el estrés con precisión imponiendo sólo condiciones de estrés de CC. Este documento se aplica tanto a dispositivos empaquetados como no empaquetados. Cuando los dispositivos estén desnudos o en paquetes no aptos para ser tensados excepto en enchufes, pueden ocurrir fallas adicionales, debido al embalaje, que no se consideran parte del producto que se está probando. Si esto ocurre, dichas fallas deben excluirse de la población al calcular la tasa de fallas prevista. Dado que no es probable que se conozcan todas las estructuras y mecanismos de falla en un MMIC cuando se escriben estas pautas, se debe utilizar cierto criterio al aplicar los principios de este documento a las pruebas específicas. Cuando una circunstancia inusual obligue a hacer excepciones a estas pautas, la excepción deberá indicarse en el informe de prueba de vida.
IEC PAS 62164:2000 Historia
2000IEC PAS 62164:2000 Directrices para las pruebas de vida útil de GaAs MMIC y FET