IEC 61000-4-29:2000 Compatibilidad electromagnética (CEM) - Parte 4-29: Técnicas de prueba y medición; Caídas de voltaje, interrupciones breves y variaciones de voltaje en pruebas de inmunidad del puerto de alimentación de CC normas y especificaciones

Estándar No.: IEC 61000-4-29:2000
Fecha de publicación: 2000
Organización: International Electrotechnical Commission (IEC)
Ultima versión: IEC 61000-4-29:2000
Reemplazar: IEC 77A/250/CDV:1998 IEC 77A/307/FDIS:2000

Alcance: Esta parte de IEC 61000 define métodos de prueba para la inmunidad a caídas de voltaje, interrupciones breves y variaciones de voltaje en el puerto de alimentación de entrada de CC de equipos eléctricos o electrónicos. Este estándar es aplicable a los puertos de alimentación de CC de bajo voltaje de equipos alimentados por redes de CC externas. El objetivo de esta norma es establecer una base común y reproducible para probar equipos eléctricos y electrónicos cuando se someten a caídas de voltaje, interrupciones breves o variaciones de voltaje en los puertos de alimentación de entrada de CC. Esta norma define: 　——la gama de niveles de prueba; 　——el generador de pruebas; 　——la configuración de la prueba; 　——el procedimiento de prueba. La prueba que se describe a continuación se aplica a equipos y sistemas eléctricos y electrónicos. También se aplica a módulos o subsistemas siempre que la potencia nominal del EUT (equipo bajo prueba) sea mayor que la capacidad del generador de prueba especificada en la cláusula 6. La ondulación en el puerto de alimentación de entrada de CC no está incluida en el alcance de esta parte de IEC 61000. Está cubierto por IEC 61000-4-17. Esta norma no especifica las pruebas que se aplicarán a aparatos o sistemas particulares. Su objetivo principal es dar una referencia básica general a los comités de productos IEC. Estos comités de productos (o usuarios y fabricantes de equipos) siguen siendo responsables de la elección adecuada de las pruebas y del nivel de severidad que se aplicará a sus equipos. nota:1) IEC 61000-4-17, Compatibilidad electromagnética (EMC) - Parte 4-17: Técnicas de prueba y medición - Prueba de inmunidad del puerto de alimentación de entrada de CC

IEC 61000-4-29:2000 Historia

2000 IEC 61000-4-29:2000 Compatibilidad electromagnética (CEM) - Parte 4-29: Técnicas de prueba y medición; Caídas de voltaje, interrupciones breves y variaciones de voltaje en pruebas de inmunidad del puerto de alimentación de CC

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IEC 61000-4-29:2000
Compatibilidad electromagnética (CEM) - Parte 4-29: Técnicas de prueba y medición; Caídas de voltaje, interrupciones breves y variaciones de voltaje en pruebas de inmunidad del puerto de alimentación de CC