BS EN ISO 11254-1:2000 normas y especificaciones

Estándar No.: BS EN ISO 11254-1:2000
Fecha de publicación: 2000
Organización: British Standards Institution (BSI)
Estado: 2011-09
Remplazado por: BS EN ISO 21254-1:2011; BS EN ISO 21254-2:2011
Ultima versión: BS EN ISO 21254-1:2011; BS EN ISO 21254-2:2011

Alcance: Esta parte de la Norma ISO 11254 especifica un método de prueba para determinar el umbral de daño inducido por radiación láser de un solo disparo (LIDT) de superficies ópticas. Este procedimiento de prueba es aplicable a todas las combinaciones de diferentes longitudes de onda láser y longitudes de pulso. Sin embargo, la comparación de los datos del umbral de daño del láser puede ser engañosa a menos que las mediciones se hayan realizado con longitudes de onda, longitudes de pulso y diámetros de haz idénticos. La aplicación de esta parte de la Norma ISO 11254 está restringida provisionalmente a daños irreversibles de superficies ópticas. NOTA: En el anexo C se dan ejemplos de unidades y escalas de umbrales de daños inducidos por láser. ADVERTENCIA: la extrapolación de los datos de daños puede dar lugar a resultados calculados inexactos o erróneos y a una sobreestimación del LIDT. En el caso de materiales tóxicos (p. ej. ZnSe, GaAs, CdTe, ThF4, calcógenos, Be, Cr, Ni), esto podría provocar graves riesgos para la salud.

BS EN ISO 11254-1:2000 Historia

2011 BS EN ISO 21254-1:2011 Láseres y equipos relacionados con el láser. Métodos de prueba para el umbral de daño inducido por láser. Definiciones y principios generales
2000 BS EN ISO 11254-1:2000

BS EN ISO 11254-1:2000 ha sido cambiado a BS EN ISO 21254-2:2011 Láseres y equipos relacionados con el láser. Métodos de prueba para el umbral de daño inducido por láser. Determinación del umbral.

BS EN ISO 11254-1:2000 ha sido cambiado a BS EN ISO 21254-1:2011 Láseres y equipos relacionados con el láser. Métodos de prueba para el umbral de daño inducido por láser. Definiciones y principios generales.