IEC 60747-4-1:2000 Dispositivos semiconductores - Dispositivos discretos - Parte 4-1: Diodos y transistores de microondas; Transistores de efecto de campo de microondas; Especificación de detalle en blanco
El sistema de evaluación de calidad de componentes electrónicos de IEC sigue los estatutos de IEC y funciona bajo la autorización de 1EC. El propósito de este sistema es determinar los procedimientos de evaluación de la calidad de tal manera que los componentes electrónicos lanzados por un país participante de acuerdo con las especificaciones relevantes puedan ser igualmente aceptados por todos los demás países participantes sin pruebas adicionales. Esta especificación detallada en blanco es una de una serie de especificaciones detalladas en blanco para dispositivos semiconductores y debe usarse junto con las siguientes normas nacionales. GB/T 4589.1-2006 Dispositivos semiconductores Parte 10: Especificaciones generales para dispositivos discretos y circuitos integrados (1EC 60747-10: 1991, 1DT) GB/T 12560-1999 Dispositivos semiconductores Especificaciones particulares para dispositivos discretos (idt IEC 60747-11: 1996 ) Información requerida. Los números entre corchetes en esta página y en la siguiente corresponden a la información requerida en cada uno de los siguientes ítems, esta información deberá ser completada en las columnas correspondientes. Identificación de especificaciones detalladas [1] Nombre de la agencia nacional de normalización autorizada para emitir especificaciones detalladas. [2] Número IECQ de especificación detallada. [3] El número y número de versión de la especificación general y los subestándares. [4] Número nacional de la especificación detallada, fecha de lanzamiento y cualquier información requerida por el sistema de normalización nacional. Identificación del dispositivo [5] Tipo de dispositivo. [6] Estructura típica e información de aplicación. Si un dispositivo tiene varias aplicaciones, esto debe indicarse en la especificación detallada. Se deberán cumplir las características, valores límite y requisitos de inspección de estas aplicaciones. Si el dispositivo es electrostáticamente sensible o contiene materiales peligrosos como óxido de berilio, se debe tener precaución en las especificaciones detalladas. [7] Dibujos de apariencia y/o referencias a estándares de apariencia relevantes. [8] Categorías de evaluación de la calidad. [9] Datos de referencia de las características más importantes que se pueden comparar entre modelos de dispositivos. [En esta especificación, el texto entre corchetes es para orientación de los redactores de especificaciones detalladas y no debe incorporarse a las especificaciones detalladas. ] [En esta especificación, "×" indica que el valor de la característica o clasificación debe especificarse en la especificación detallada. ]
IEC 60747-4-1:2000 Historia
2000IEC 60747-4-1:2000 Dispositivos semiconductores - Dispositivos discretos - Parte 4-1: Diodos y transistores de microondas; Transistores de efecto de campo de microondas; Especificación de detalle en blanco