ISO 11254-1:2000 Láseres y equipos relacionados con el láser. Determinación del umbral de daño de superficies ópticas inducido por láser. Parte 1: prueba 1 a 1. normas y especificaciones

Alcance: Esta parte de la Norma ISO 11254 especifica un método de prueba para determinar el umbral de daño inducido por radiación láser de un solo disparo (LIDT) de superficies ópticas. Este procedimiento de prueba es aplicable a todas las combinaciones de diferentes longitudes de onda láser y longitudes de pulso. Sin embargo, la comparación de los datos del umbral de daño del láser puede ser engañosa a menos que las mediciones se hayan realizado con longitudes de onda, longitudes de pulso y diámetros de haz idénticos. La aplicación de esta parte de la Norma ISO 11254 está restringida provisionalmente a daños irreversibles de superficies ópticas. NOTA En el anexo C se dan ejemplos de unidades y escalas de umbrales de daños inducidos por láser. ADVERTENCIA: la extrapolación de los datos de daños puede dar lugar a resultados calculados inexactos o incorrectos y a una sobreestimación del LIDT. En el caso de materiales tóxicos (p. ej. ZnSe, GaAs, CdTe, ThF4, calcogenuros, Be, Cr, Ni), esto podría provocar graves riesgos para la salud.

ISO 11254-1:2000 Documento de referencia

ISO 10110-7:1996 Óptica e instrumentos ópticos. Elaboración de planos de elementos y sistemas ópticos. Parte 7: Tolerancias de imperfecciones superficiales.
ISO 11145:1994 Óptica e instrumentos ópticos - Láseres y equipos relacionados con el láser - Vocabulario y símbolos

2000 ISO 11254-1:2000 Láseres y equipos relacionados con el láser. Determinación del umbral de daño de superficies ópticas inducido por láser. Parte 1: prueba 1 a 1.