BS CECC 50000:1987
Sistema armonizado de evaluación de la calidad de los componentes electrónicos. Especificación genérica: dispositivos semiconductores discretos.

Estándar No.

BS CECC 50000:1987

Fecha de publicación

1987

Organización

British Standards Institution (BSI)

Ultima versión

BS CECC 50000:1987

Reemplazar

87/27234 DC-1987 BS 9300:1969 BS CECC 50000:1981 85/24275 DC

Alcance

Se aplica a diodos, transistores, diodos rectificadores y tiristores. Especifica la evaluación de la calidad y las condiciones de prueba y medición. Apéndices sobre similitud estructural, requisitos de inspección, ensayos y cribado.

BS CECC 50000:1987 Historia

• 1987 BS CECC 50000:1987 Sistema armonizado de evaluación de la calidad de los componentes electrónicos. Especificación genérica: dispositivos semiconductores discretos.
• 1969 BS 9300:1969 Especificación para dispositivos semiconductores de calidad evaluada: datos genéricos y métodos de prueba.