BS EN 61000-4-17:1999 Compatibilidad electromagnética (EMC) - Técnicas de prueba y medición - Prueba de inmunidad al ondulación en el puerto de alimentación de entrada de CC
Esta parte de IEC 61000 define métodos de prueba para la inmunidad a la ondulación en el puerto de alimentación de entrada de CC de equipos eléctricos o electrónicos. Esta norma es aplicable a los puertos de alimentación de CC de bajo voltaje de equipos alimentados por sistemas rectificadores externos o baterías que se están cargando. El objetivo de esta norma es establecer una base común y reproducible para probar, en un laboratorio, equipos eléctricos y electrónicos cuando se someten a voltajes de ondulación como los generados por sistemas rectificadores y/o cargadores de baterías de servicio auxiliar superpuestos a fuentes de suministro de energía de CC. Esta norma define: forma de onda del voltaje de prueba;
——gama de niveles de prueba;
——generador de pruebas;
——configuración de prueba;
——procedimiento de prueba. La prueba que se describe a continuación se aplica a equipos y sistemas eléctricos o electrónicos. También se aplica a módulos o subsistemas siempre que la potencia nominal del equipo bajo prueba (EUT) sea mayor que la capacidad del generador de prueba especificada en la cláusula 6. Esta prueba no se aplica a equipos conectados a sistemas de cargadores de baterías que incorporan convertidores de modo conmutado. Esta norma no especifica las pruebas que se aplicarán a aparatos o sistemas particulares. Su objetivo principal es dar una referencia básica general a los comités de productos IEC. Estos comités de productos (o usuarios o fabricantes de equipos) siguen siendo responsables de la elección adecuada de la prueba y del nivel de severidad que se aplicará a sus equipos. Se utilizan procedimientos de prueba específicos para probar categorías específicas de equipos eléctricos o electrónicos, por ejemplo, equipos conectados a la red de suministro de CC de centros de conmutación telefónica; Los comités de productos relacionados deben evaluar la relevancia y aplicabilidad del procedimiento de prueba especificado en esta norma básica.
BS EN 61000-4-17:1999 Historia
1999BS EN 61000-4-17:1999+A2:2009 Compatibilidad electromagnética (CEM). Técnicas de ensayo y medición. Ondulación en la prueba de inmunidad del puerto de alimentación de entrada de CC
1999BS EN 61000-4-17:1999 Compatibilidad electromagnética (EMC) - Técnicas de prueba y medición - Prueba de inmunidad al ondulación en el puerto de alimentación de entrada de CC