BS CECC 00013:1985
Sistema armonizado de evaluación de la calidad de componentes electrónicos: especificación básica: inspección con microscopio electrónico de barrido de dados semiconductores

Estándar No.

BS CECC 00013:1985

Fecha de publicación

1985

Organización

British Standards Institution (BSI)

Estado

Ultima versión

BS CECC 00013:1985

Alcance

Describe los equipos y procedimientos que se utilizarán para la inspección SEM de dispositivos semiconductores discretos y circuitos integrados.

BS CECC 00013:1985 Historia

• 1985 BS CECC 00013:1985 Sistema armonizado de evaluación de la calidad de componentes electrónicos: especificación básica: inspección con microscopio electrónico de barrido de dados semiconductores