JIS Z 9010:1999
Planes de muestreo secuencial para inspección por variables para porcentaje no conforme (desviación estándar conocida)

Estándar No.

JIS Z 9010:1999

Fecha de publicación

1999

Organización

Japanese Industrial Standards Committee (JISC)

Ultima versión

JIS Z 9010:1999

Alcance

Esta norma internacional especifica métodos de muestreo secuencial y procedimientos de muestreo para pruebas metrológicas de artículos discretos (contables). Esta norma complementa JIS Z 9009. El método de muestreo de esta norma utiliza puntos de riesgo del productor y puntos de riesgo del consumidor como indicadores.

JIS Z 9010:1999 Historia

• 1999 JIS Z 9010:1999 Planes de muestreo secuencial para inspección por variables para porcentaje no conforme (desviación estándar conocida)
• 1979 JIS Z 9010:1979 Planes de inspección de muestreo secuencial para el porcentaje de productos defectuosos que tienen las características operativas deseadas por variables (desviación estándar conocida)