JIS Z 8754:1999
Tecnología de vacío: calibración de detectores de fugas tipo espectrómetro de masas

Estándar No.

JIS Z 8754:1999

Fecha de publicación

1999

Organización

Japanese Industrial Standards Committee (JISC)

Ultima versión

JIS Z 8754:1999

Reemplazar

JIS Z 8754:1988

Alcance

Esta norma especifica procedimientos para la calibración de detectores de fugas de espectrómetros de masas.

JIS Z 8754:1999 Historia

• 1999 JIS Z 8754:1999 Tecnología de vacío: calibración de detectores de fugas tipo espectrómetro de masas
• 1988 JIS Z 8754:1988 Calibración de detectores de fugas tipo espectrómetro de masas