DIN 50441-4:1999
Ensayos de materiales para tecnología de semiconductores. Determinación de las dimensiones geométricas de obleas semiconductoras. Parte 4: Diámetro del corte, variación del diámetro, diámetro plano, longitud plana, profundidad plana.

Estándar No.

DIN 50441-4:1999

Fecha de publicación

1999

Organización

German Institute for Standardization

Estado

Ultima versión

DIN 50441-4:1999

Alcance

Los métodos según el documento cubren la determinación del diámetro de corte, la variación del diámetro, el diámetro plano, la longitud plana y la profundidad plana. No son destructivos en cuanto a daños mecánicos.#,,#

DIN 50441-4:1999 Historia

• 1999 DIN 50441-4:1999 Ensayos de materiales para tecnología de semiconductores. Determinación de las dimensiones geométricas de obleas semiconductoras. Parte 4: Diámetro del corte, variación del diámetro, diámetro plano, longitud plana, profundidad plana.