DIN 50440:1998
Ensayos de materiales para tecnología de semiconductores - Medición de la vida útil del portador en monocristales de silicio - Vida útil del portador de recombinación con baja inyección mediante el método de fotoconductividad

Estándar No.

DIN 50440:1998

Fecha de publicación

1998

Organización

German Institute for Standardization

Estado

Ultima versión

DIN 50440:1998

Alcance

El método según el documento cubre la determinación de la vida útil del portador de recombinación con una inyección baja mediante el método de desintegración fotoconductora.

DIN 50440:1998 Historia

• 1998 DIN 50440:1998 Ensayos de materiales para tecnología de semiconductores - Medición de la vida útil del portador en monocristales de silicio - Vida útil del portador de recombinación con baja inyección mediante el método de fotoconductividad