ANSI/EIA 318-B:1996
Medición del tiempo de recuperación inversa para diodos de señal semiconductores / Nota: Aprobado el 00-04-1999.

Estándar No.

ANSI/EIA 318-B:1996

Organización

American National Standards Institute （ANSI)

Ultima versión

ANSI/EIA 318-B:1996

ANSI/EIA 318-B:1996 Historia

• 1970 ANSI/EIA 318-B:1996 Medición del tiempo de recuperación inversa para diodos de señal semiconductores / Nota: Aprobado el 00-04-1999.