JIS R 3256:1998
Métodos de medición de la resistividad superficial de sustratos de vidrio.

Estándar No.

JIS R 3256:1998

Fecha de publicación

1998

Organización

Japanese Industrial Standards Committee (JISC)

Ultima versión

JIS R 3256:1998

Alcance

Esta norma especifica el método para medir la resistividad eléctrica de la superficie del sustrato de vidrio.

JIS R 3256:1998 Historia

• 1998 JIS R 3256:1998 Métodos de medición de la resistividad superficial de sustratos de vidrio.