Esta norma se aplica a muestras que no se encuentran en estado seco. Utilizar un microscopio electrónico de barrido (en lo sucesivo denominado SEM) que no tiene funciones o estructuras especiales que permitan la observación de muestras volátiles y muestras no conductoras, y que puede usarse a una presión de la cámara de muestra de 10 Pa o menos, especifica la preparación de la muestra. Métodos para la observación SEM de materiales cerámicos finos a granel y materiales en polvo.
JIS R 1633:1998 Historia
1998JIS R 1633:1998 Método de preparación de muestras de cerámicas finas y polvos cerámicos finos para observación con microscopio electrónico de barrido.