DIN EN 60444-3:1997
Medición de parámetros de unidades de cristal de cuarzo mediante técnica de fase cero en una red pi - Parte 3: Método básico para la medición de parámetros de dos terminales de unidades de cristal de cuarzo hasta 200 MHz mediante técnica de fase en una red pi con compensación de la p
- Estándar No.
- DIN EN 60444-3:1997
- Fecha de publicación
- 1997
- Organización
- German Institute for Standardization
- Estado
- Remplazado por
- DIN EN 60444-3:1997-10
- Ultima versión
- DIN EN 60444-3:1997-10
- Reemplazar
- DIN IEC 60444-3:1993
- Alcance
- El documento especifica un método para medir los parámetros del cristal de cuarzo utilizando una inductancia para compensar los efectos del C en la frecuencia de la unidad de cristal.
DIN EN 60444-3:1997 Historia
- 1997 DIN EN 60444-3:1997-10 Medición de parámetros de unidades de cristal de cuarzo mediante técnica de fase cero en una red pi - Parte 3: Método básico para la medición de parámetros de dos terminales de unidades de cristal de cuarzo hasta 200 MHz mediante técnica de fase en una red pi con compensación de th. ..
- 1997 DIN EN 60444-3:1997 Medición de parámetros de unidades de cristal de cuarzo mediante técnica de fase cero en una red pi - Parte 3: Método básico para la medición de parámetros de dos terminales de unidades de cristal de cuarzo hasta 200 MHz mediante técnica de fase en una red pi con compensación de la p
- 0000 DIN IEC 60444-3:1993
