JIS K 0132:1997
Reglas generales para la microscopía electrónica de barrido.

Estándar No.

JIS K 0132:1997

Fecha de publicación

1997

Organización

Japanese Industrial Standards Committee (JISC)

Ultima versión

JIS K 0132:1997

Alcance

Esta norma especifica cuestiones generales cuando se utiliza un microscopio electrónico de barrido para observar y analizar la morfología de porciones diminutas de superficies de muestras utilizando principalmente electrones secundarios.

JIS K 0132:1997 Historia

• 1997 JIS K 0132:1997 Reglas generales para la microscopía electrónica de barrido.